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UniversidaddeCádiz
Vicerrectorado de Investigación y Transferencia

Servicio de Haces de Iones Focalizados (FIB)

Descripción

  • Preparación de muestras electrón-transparentes para microscopía electrónica de materiales y dispositivos.
  • Nano-mecanizado mediante FIB de materiales y dispositivos.
  • Preparación de muetras en forma de nano-agujas para análisis mediante tomografía electrónica y de sonda atómica (Atom Probe Tomography), así como para otras aplicaciones que requieran esta geometría de muestra.
  • Manipulación de muestra de distintos materiales a escala micro y nanométrica, incluyendo cortes en el material por ataque iónico, deposiciones de carbono o platino, transferencia de porciones de material a rejillas, etc.
  • Análisis de material mediante electrones secundarios y con el haz de iones.
  • Análisis 3D por haces de iones de distribución de precipitados u otras inclusiones en materiales y dispositivos mediante reconstrucción tomográfica.
  • Otras operaciones específicas que requieran el uso de haces de iones focalizados, definidas específicamente por el peticionario del servicio.
  • Emisión de informes.

Capacidades y Recursos

  • Personal especializado en la realización de los servicios ofertados.
  • Equipo de haces de iones focalizados DUAL BEAM QUANTA 3D.

Contactos

Miriam Herrera Collado

tel. (+34) 956 016 335

miriam.herrera@uca.es

Facultad de Ciencias

Campus de Puerto Real

Avda. República Árabe Saharaui, s/n

11510 | Puerto Real (Cádiz)